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簡(jiǎn)要描述:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
一、數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀QUC-200執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
二、數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀QUC-200主要技術(shù)參數(shù):
1測(cè)量范圍:O-200μm
2測(cè)量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度
上一產(chǎn)品:QUL不銹鋼濕膜測(cè)厚儀(輪規(guī))
下一產(chǎn)品:ETC-098超聲波測(cè)厚儀